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光芯片测试

  • 半导体光芯片老化测试设备400G/800G COB老化测试箱
半导体光芯片老化测试设备400G/800G COB老化测试箱

半导体光芯片老化测试设备400G/800G COB老化测试箱

  • 适用产品:支持100gG/200G/400G/800G等产品支持协议:支持CMIS/SFF8636/SFF8472协议尺寸大小:1850x1250x1950mm(W*D*H)驱动功率:每个产品最大6.5W(支持定制设计)满载容量:960个产品 (100G/200G/400G/800G)业界首家高速模...

适用产品:支持100gG/200G/400G/800G等产品

支持协议:支持CMIS/SFF8636/SFF8472协议

尺寸大小:1850x1250x1950mm(W*D*H)

驱动功率:每个产品最大6.5W(支持定制设计)

满载容量:960个产品 (100G/200G/400G/800G)


  • 业界首家高速模块芯片级最大老化容量


  • TCP/IP通讯(解决I2C通讯容易掉电问题)


  • 数据实时性强(1秒内960个产品数据采集)


◆◆了解售后服务有关内容